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泰克SuperSpeed测试解决方案帮助NEC电子获得世界首项USB 3.0认证
lytds | 2010-01-29 11:15:21    阅读:728   发布文章

中国北京, 2010 年1 月25 日 – 全球示波器市场的领导厂商— 泰克公司日前宣布,其SuperSpeed USB 解决方案 为NEC 电子符合USB 3.0 标准的主机提供信号质量监测,该主机是世界首款获得USB 设计者论坛USB 3.0 认证的产品。

作为设计和生产集成电路的全球领导企业,NEC 电子选择与泰克合作,验证其新的硅元件以满足新兴的SuperSpeed USB 标准(USB3.0) 要求。USB 技术已经迅速被公认为连接电脑及外设的行业标准,与其它先进的高速接口如PCI Express 2.0 和SATA Gen 3 等相比,USB 3.0 的性能可以支持高达5Gbps 的数据速率,如此高的性能为测试测量带来了更复杂的挑战。为解决这些挑战,必须使用高性能、高灵活度的测量设备,以及能够加快和简化设计、测量和分析过程的工具。借助泰克USB 3.0 测试解决方案,NEC 电子这类企业的工程师们可以对USB 设备进行检定、调试和一致性测试,自动实现余量和一致性测试。对关键的USB 3.0 接收机余量测试, 泰克AWG7122B 任意波形发生器 则可提供无可比拟的信号生成灵活度,可以帮助客户更快地把符合USB 3.0 标准的产品推向市场。

泰克公司技术解决方案部市场经理Dave Slack 表示:“泰克一直与NEC 电子保持密切合作,共同验证、测试和调试SuperSpeed USB 。今天,我们非常荣幸能为NEC 电子的产品开发做出贡献,从而使其在业内率先获得USB 3.0 认证。”

泰克USB3.0 解决方案

泰克SuperSpeed USB 一致性测试解决方案 基于一整套可提供优异的测量性能,满足高速串行协议需求的仪器,包括实时和采样示波器、任意波形发生器等。例如,DSA71254B 实时示波器 提供了高带宽和低噪声环境,可准确地捕获和分析快速串行信号时钟速率。对一致性测试中的眼图分析和余量测试,匹配的示波器采集系统变得至关重要。与其类似的是,AWG7122B 任意波形发生器 提供了复杂的波形,可以模拟传输路径的劣化效应,支持接收机测试。这些硬件工具与专业应用软件配合使用,如DPOJET 抖动和眼图分析工具SerialXpress 高级抖动生成工具TekExpress™ USB 3.0 自动一致性测试软件 等,为工程师检验和调试设计提供了所需的工具。

更多泰克即时信息,请登录 Twitter, 参看 – @tektronix .

关于泰克公司

泰克公司是一家领先的测试、测量和监测产品提供商,它为全球通讯、计算机和半导体行业以及军事/航空航天、消费电子、教育等行业提供各种测量解决方案服务。泰克公司拥有60多年的丰富经验,帮助用户设计、构建、配置和管理下一代的全球通讯网络、计算技术和先进技术。泰克公司的总部设在俄勒冈州毕佛顿,在全球19个国家和地区设有办事机构。泰克公司的中文网址是www.tektronix.com.cn

泰克产品西安代理商:

西安安泰测试设备有限公司

公司网站:www.agitek.com.cn

电话:029-88353093 029-68632060

电子邮箱:agitek-test@live.cn

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